GRETSI'03 19e Colloque GRETSI
sur le traitement du signal et des images
Paris   8 - 11 septembre 2003
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Informations concernant l'article

Titre
Segmentation d'images de semiconducteur pour la détection de défauts
Auteur(s)
Pierrick Bourgeat Oak Ridge National Laboratory
Fabrice Meriaudeau Laboratoire Le2i
Kenneth W. Tobin Oak Ridge National Laboratory
Références
vol. II, page 315
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Résumé

Ce papier présente un algorithme de segmentation adapté aux images de semiconducteur. Le but principal de ce travail est la segmentation d'images pour une sélection automatique du niveau de seuillage pour l'inspection « die-to-die » de wafer électronique. La segmentation est basee sur la transformée en ondelettes et l'utilisation du classifeur de polytopes de contraintes.
Edition : Télécom-Paris -- 2003