Cet article propose l'étude et l'amélioration de la commande des microscopes à effet tunnel. Depuis la création de tels microscopes, la commande utilisée est de type proportionnel intégral. Cet article présente donc une méthode moderne basée sur la commande H∞ pour augmenter à la fois la précision et la bande passante des microscopes à effet tunnel. A cet effet, les incertitudes paramétriques du modèle et les normes finies de perturbations mesurées sont prises en compte. Un contrôleur H∞ est ensuite synthétisé en suivant à la fois des objectifs de bande passante, de robustesse et de précision. Les performances et la robustesse du contrôleur sont finalement analysées pour valider la loi de commande.